BeNano 180 納米粒度分析儀 -
產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品介紹
BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測系統(tǒng)。它基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運算得出樣品的自相曲線，結(jié)合數(shù)學(xué)方法就可以得到顆粒的擴散系數(shù)，進(jìn)一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結(jié)果。
基本性能指標(biāo)
粒徑檢測
原理 動態(tài)光散射技術(shù)
粒徑范圍
0.3 nm – 10 μm
樣品
40 μL – 1 mL
檢測角度
173
分析算法
Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS
分子量測試
分子量范圍
342 Da – 2 x 107 Da
微流變測試
測試能力
均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>
粘度和折光率測試
粘度范圍 0.01 cp – 100 cp
折光率范圍
1.3-1.6
趨勢測試
時間和溫度 系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍 -15°C - 110°C，精度±0.1°C
冷凝控制
干燥空氣或者氮氣
標(biāo)準(zhǔn)激光光源
50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關(guān)器
最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動態(tài)線性范圍
檢測器
APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制 0.0001% - 100%，手動或者自動 軟件
中文和英文 符合21CFR Part 11
檢測參數(shù)
●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布
●分子量
●分布系數(shù) PD.I
●擴散系數(shù) D
●流體力學(xué)直徑 DH
●顆粒間相互作用力因子 kD
●溶液粘度
檢測技術(shù)
●動態(tài)光散射
●靜態(tài)光散射
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