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BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀 -
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)品介紹
BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。 該系統(tǒng)中集成了背向 +90°動(dòng)態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分 布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可 廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的 基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
基本性能指標(biāo)
粒徑檢測(cè)
原理 動(dòng)態(tài)光散射技術(shù) 粒徑范圍 0.3 nm – 15 μm 樣品量 3 μL – 1 mL 檢測(cè)角度 173 °+90 ° + 12° 分析算法 Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS Zate電位測(cè)試
原理 相位分析光散射技術(shù) 檢測(cè)角度 12° Zeta范圍 無(wú)實(shí)際限制 電泳遷移率范圍 > ±20 μ.cm/V.s 電導(dǎo)率范圍 0 - 260 mS/cm Zeta測(cè)試粒徑范圍 2 nm – 110 μm 分子量測(cè)試
分子量范圍 342 Da – 2 x 107 Da 微流變測(cè)試
測(cè)試能力 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> 粘度和折光率測(cè)試
粘度范圍 0.01 cp – 100 cp 折光率范圍 1.3-1.6 趨勢(shì)測(cè)試
時(shí)間與溫度 系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍 -15°C - 110°C，精度±0.1°C 冷凝控制 干燥空氣或者氮?dú)?/span> 相關(guān)器 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm 電泳遷移率范圍 最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動(dòng)態(tài)線性范圍 檢測(cè)器 APD （高性能雪崩光電二極管） 光強(qiáng)控制 0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng) 軟件
中文和英文 符合21CFR Part 11 檢測(cè)參數(shù)
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布
●分子量
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●流體力學(xué)直徑 DH
●顆粒間相互作用力因子 kD
●溶液粘度
檢測(cè)技術(shù)
●動(dòng)態(tài)光散射
●靜態(tài)光散射
●電泳光散射